1. Kristallstruktur und Atomanordnung
1.1 Atomanordnung
<100>Kristallrichtung
- Oberflächenatomanordnung: Atome werden entlang der Rand des Würfels angeordnet, um ein quadratisches Netz zu bilden.
- Atomdichte: Die niedrigste (etwa Atome\/cm²), der Atomabstand ist groß und die Oberflächenenergie hoch.
- Bindungsrichtung: Die Oberflächenatombindungen sind senkrecht zur Kristallebene und weisen eine hohe chemische Aktivität auf.

100 010 001
<110>Kristalloberfläche
- Atomanordnung: Entlang der diagonalen Richtung der Würfelfläche angeordnet, um ein rechteckiges Netz zu bilden.
- Atomdichte: Medium (über Atome\/cm²).
- Bindungsrichtung: Die Oberflächenatombindungen werden mit einer hohen mechanischen Festigkeit von 45 Grad geneigt.

1.2 Oberflächenenergie und chemische Stabilität
<111>><110>><100>(Ranking der chemischen Stabilität)
- <111>Die Oberfläche hat aufgrund ihrer hohen Atomdichte und einer starken Bindung die beste Korrosionsbeständigkeit.
- <100>Die Oberflächenatome sind locker und durch Chemikalien (wie KOH) leicht geätzt.

2. Anisotropes Verhalten
2.1 chemische Ätzen feucht (als Beispiel KOH)
| Kristallorientierung | Ätzrate (80 Grad, 30% KOH) | Ätzmorphologie | Anisotropieverhältnis (<100>:<111>) |
| <100> | ~ 1,4 μm\/min | V-Groove (Seitenwand 54,7 Grad) | 100:1 |
| <110> | ~ 0. 8 μm\/min | Vertikale tiefe Rille (Seitenwand 90 Grad) | 50:01:00 |
| <111> | ~ 0. 01 μm\/min | Flache Oberfläche (Ätzstopschicht) | - |
- Schlüsselmechanismus: Die Ätzrate von KOH auf Silizium hängt direkt mit dem Grad der Exposition von Atombindungen entlang der Kristallrichtung zusammen.
- <100>: Atomanleihen können leicht von Oh⁻ angegriffen werden, und die Ätzrate ist schnell;
- <111>: Atombindungen sind eng abgeschirmt und fast nicht reaktiv.
2.2 Trockenätzung (wie Plasmaetching)
- Die Kristallorientierung hat wenig Wirkung, aber die<111>Oberfläche mit hoher Dichte kann einen Mikro-Masking-Effekt verursachen und lokale Rauheit bilden.
3. Vergleich der Prozessmerkmale
3.1 Qualitätsschichtqualität
| Kristallorientierung | SiO₂ -Defektdichte (CM⁻²) | Grenzflächenzustandsdichte (cm⁻² · ev⁻¹) | Gate Leckagestrom (Na\/cm²) |
| <100> | <1×10¹⁰ | ~1×10¹⁰ | <1 |
| <111> | ~1×10¹¹ | ~1×10¹¹ | >10 |
| <110> | ~5×10¹⁰ | ~5×10¹⁰ | ~5 |
- <100>Vorteile: Niedrige Oxidschicht ist eine Kernbedarf von CMOS-Geräten.
3.2 Mobilität der Träger (300K)
| Kristallorientierung | Elektronenmobilität (cm²\/(v · s)) | Lochmobilität (cm²\/(v · s)) |
| <100> | 1500 | 450 |
| <110> | 1200 | 350 |
| <111> | 900 | 250 |
- Grund: die<100>Die Kristallebene entspricht der Symmetrie des Siliziumgitters und reduziert die Trägerstreuung.
4. Mechanische und thermische Eigenschaften
4.1 Mechanische Stärke<111>><110>><100>
- Die Frakturschärfe lautet: {{0}}. 8 MPA · M¹\/², 0.
- Anwendungsbeispiel: MEMS -Drucksensoren verwenden meistens<110>Waffeln, weil ihr Müdigkeitsbeständigkeit besser ist als<100>.
4.2 Wärmeleiterkoeffizient
Die Anisotropie von Silizium führt zu Unterschieden in den thermischen Expansionskoeffizienten in verschiedenen Kristallrichtungen:
- <100>: 2.6×10⁻⁶ /K
- <110>: 1.6×10⁻⁶ /K
- <111>: 0.5×10⁻⁶ /K
Auswirkungen:<111>Wafer sind anfällig für Stress in Hochtemperaturprozessen, und die thermischen Budgets müssen sorgfältig gestaltet werden.
5. Anwendungsszenarien
5.1 <100>Kristallorientierung
- Integrierte Schaltkreise (ICs): Mehr als 95% der weltweit logischen Chips (wie CPUs und DRAMs) verwenden<100>Wafer.
- Vorteile: Dichte der niedrigen Grenzflächenzustand, Mobilität mit hoher Träger und Gleichmäßigkeit der Oxidschicht.
- Solarzellen: Pyramidenstruktur durch anisotropes Ätzen mit einem Reflexionsvermögen von<5%.
- Beispiel: Der 3NM -Prozess von TSMC basiert auf<100>Silizium mit einer Torlänge von 12 nm.
5.2 <110>Kristallorientierung
MEMS -Geräte:
- Accelerometers: Use vertical deep grooves to make movable masses (aspect ratio >20:1).
- Drucksensoren: Der Piezoresistanzkoeffizient ist der größte in der<110>Richtung (z. B. beträgt der π₁₁ -Siliziumkoeffizient 6,6 × 10^-11 pa⁻¹).
- Hochfrequenzgeräte:<110>Siliziumsubstrate können den Mismatch -Stress von Gitter beim epitaxialen Wachstum von GaAs verringern.
5.3 <111>Kristallorientierung
Optoelektronische Geräte:
- Gan epitaxial: hohes gitterübereinstimmung mit<111>Silizium (17% Nichtübereinstimmung, im Vergleich zu<100> 23%).
- Quantenpunktarrays: Atomebenen mit hoher Dichte liefern geordnete Keimbildungsstellen.
- Nanostrukturvorlagen: Wird für AFM -Sondenspitzen oder Nanodrahtwachstum verwendet.
6. Kosten und Industriekette
| Kristallorientierung | Marktanteil | Preis (relativ zu<100>) | Standardisierte Prozessreife |
| <100>> | 90% | Benchmark (1 ×) | Voll standardisiert |
| <110> | ~5% | 2–3× | Teilweise angepasst |
| <111> | <5% | 4–5× | Hoch angepasst |
Kosten Treiber:
- <100>Wafer haben aufgrund von Skaleneffekten die niedrigsten Kosten;
- <111>Wafer benötigen spezielle Schnitt- und Polierprozesse.
Zusammenfassung: Die Schlüsselbasis für die Auswahl der Kristallausrichtung
| Nachfrage | Empfohlene Kristallorientierung | Gründe |
| Hochleistungs-CMOs | <100> | Dichte mit geringer Schnittstellenzustand, hohe Mobilität, reife Prozesskette |
| MEMS Deep Grabenstruktur | <110> | Vertikale Ätzfähigkeit, hohe mechanische Festigkeit |
| Optoelektronische Geräte\/Quantenmaterialien | <111> | Hohe chemische Stabilität, Gitteranpassungsvorteil |
| Kostengünstige Massenproduktion | <100> | Maßstabeffekt, standardisierte Lieferkette |









