Was ist der Unterschied zwischen Siliziumwafer<100>, <110>, <111>?

Apr 28, 2025 Eine Nachricht hinterlassen

1. Kristallstruktur und Atomanordnung
1.1 Atomanordnung

<100>Kristallrichtung

  • Oberflächenatomanordnung: Atome werden entlang der Rand des Würfels angeordnet, um ein quadratisches Netz zu bilden.
  • Atomdichte: Die niedrigste (etwa Atome\/cm²), der Atomabstand ist groß und die Oberflächenenergie hoch.
  • Bindungsrichtung: Die Oberflächenatombindungen sind senkrecht zur Kristallebene und weisen eine hohe chemische Aktivität auf.

 

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100                                              010                                              001

<110>Kristalloberfläche

  • Atomanordnung: Entlang der diagonalen Richtung der Würfelfläche angeordnet, um ein rechteckiges Netz zu bilden.
  • Atomdichte: Medium (über Atome\/cm²).
  • Bindungsrichtung: Die Oberflächenatombindungen werden mit einer hohen mechanischen Festigkeit von 45 Grad geneigt.

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1.2 Oberflächenenergie und chemische Stabilität
<111>><110>><100>(Ranking der chemischen Stabilität)

  • <111>Die Oberfläche hat aufgrund ihrer hohen Atomdichte und einer starken Bindung die beste Korrosionsbeständigkeit.
  • <100>Die Oberflächenatome sind locker und durch Chemikalien (wie KOH) leicht geätzt.

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2. Anisotropes Verhalten
2.1 chemische Ätzen feucht (als Beispiel KOH)

Kristallorientierung Ätzrate (80 Grad, 30% KOH) Ätzmorphologie Anisotropieverhältnis (<100>:<111>)
<100> ~ 1,4 μm\/min V-Groove (Seitenwand 54,7 Grad) 100:1
<110> ~ 0. 8 μm\/min Vertikale tiefe Rille (Seitenwand 90 Grad) 50:01:00
<111> ~ 0. 01 μm\/min Flache Oberfläche (Ätzstopschicht) -

 

  • Schlüsselmechanismus: Die Ätzrate von KOH auf Silizium hängt direkt mit dem Grad der Exposition von Atombindungen entlang der Kristallrichtung zusammen.
  • <100>: Atomanleihen können leicht von Oh⁻ angegriffen werden, und die Ätzrate ist schnell;
  • <111>: Atombindungen sind eng abgeschirmt und fast nicht reaktiv.

 

2.2 Trockenätzung (wie Plasmaetching)

  • Die Kristallorientierung hat wenig Wirkung, aber die<111>Oberfläche mit hoher Dichte kann einen Mikro-Masking-Effekt verursachen und lokale Rauheit bilden.

 

3. Vergleich der Prozessmerkmale
3.1 Qualitätsschichtqualität

 

Kristallorientierung SiO₂ -Defektdichte (CM⁻²) Grenzflächenzustandsdichte (cm⁻² · ev⁻¹) Gate Leckagestrom (Na\/cm²)
<100> <1×10¹⁰ ~1×10¹⁰ <1
<111> ~1×10¹¹ ~1×10¹¹ >10
<110> ~5×10¹⁰ ~5×10¹⁰ ~5

 

  • <100>Vorteile: Niedrige Oxidschicht ist eine Kernbedarf von CMOS-Geräten.

 

3.2 Mobilität der Träger (300K)

Kristallorientierung Elektronenmobilität (cm²\/(v · s)) Lochmobilität (cm²\/(v · s))
<100> 1500 450
<110> 1200 350
<111> 900 250
  • Grund: die<100>Die Kristallebene entspricht der Symmetrie des Siliziumgitters und reduziert die Trägerstreuung.

 

 

4. Mechanische und thermische Eigenschaften
4.1 Mechanische Stärke<111>><110>><100>

  • Die Frakturschärfe lautet: {{0}}. 8 MPA · M¹\/², 0.
  • Anwendungsbeispiel: MEMS -Drucksensoren verwenden meistens<110>Waffeln, weil ihr Müdigkeitsbeständigkeit besser ist als<100>.

 

4.2 Wärmeleiterkoeffizient
Die Anisotropie von Silizium führt zu Unterschieden in den thermischen Expansionskoeffizienten in verschiedenen Kristallrichtungen:

  • <100>: 2.6×10⁻⁶ /K
  • <110>: 1.6×10⁻⁶ /K
  • <111>: 0.5×10⁻⁶ /K

Auswirkungen:<111>Wafer sind anfällig für Stress in Hochtemperaturprozessen, und die thermischen Budgets müssen sorgfältig gestaltet werden.

 

 

5. Anwendungsszenarien
5.1 <100>Kristallorientierung

  • Integrierte Schaltkreise (ICs): Mehr als 95% der weltweit logischen Chips (wie CPUs und DRAMs) verwenden<100>Wafer.
  • Vorteile: Dichte der niedrigen Grenzflächenzustand, Mobilität mit hoher Träger und Gleichmäßigkeit der Oxidschicht.
  • Solarzellen: Pyramidenstruktur durch anisotropes Ätzen mit einem Reflexionsvermögen von<5%.
  • Beispiel: Der 3NM -Prozess von TSMC basiert auf<100>Silizium mit einer Torlänge von 12 nm.

 

5.2 <110>Kristallorientierung
MEMS -Geräte:

  • Accelerometers: Use vertical deep grooves to make movable masses (aspect ratio >20:1).
  • Drucksensoren: Der Piezoresistanzkoeffizient ist der größte in der<110>Richtung (z. B. beträgt der π₁₁ -Siliziumkoeffizient 6,6 × 10^-11 pa⁻¹).
  • Hochfrequenzgeräte:<110>Siliziumsubstrate können den Mismatch -Stress von Gitter beim epitaxialen Wachstum von GaAs verringern.

 

5.3 <111>Kristallorientierung
Optoelektronische Geräte:

  • Gan epitaxial: hohes gitterübereinstimmung mit<111>Silizium (17% Nichtübereinstimmung, im Vergleich zu<100> 23%).
  • Quantenpunktarrays: Atomebenen mit hoher Dichte liefern geordnete Keimbildungsstellen.
  • Nanostrukturvorlagen: Wird für AFM -Sondenspitzen oder Nanodrahtwachstum verwendet.

 

 

6. Kosten und Industriekette

Kristallorientierung Marktanteil Preis (relativ zu<100>) Standardisierte Prozessreife
<100>> 90% Benchmark (1 ×) Voll standardisiert
<110> ~5% 2–3× Teilweise angepasst
<111> <5% 4–5× Hoch angepasst

 

Kosten Treiber:

  • <100>Wafer haben aufgrund von Skaleneffekten die niedrigsten Kosten;
  • <111>Wafer benötigen spezielle Schnitt- und Polierprozesse.

 

 

Zusammenfassung: Die Schlüsselbasis für die Auswahl der Kristallausrichtung

Nachfrage Empfohlene Kristallorientierung Gründe
Hochleistungs-CMOs <100> Dichte mit geringer Schnittstellenzustand, hohe Mobilität, reife Prozesskette
MEMS Deep Grabenstruktur <110> Vertikale Ätzfähigkeit, hohe mechanische Festigkeit
Optoelektronische Geräte\/Quantenmaterialien <111> Hohe chemische Stabilität, Gitteranpassungsvorteil
Kostengünstige Massenproduktion <100> Maßstabeffekt, standardisierte Lieferkette